ПечатьПечать страницы

Магнитно-силовая микроскопия

Компания «Криотрейд инжиниринг» представляет сканирующие зондовые микроскопы производства немецкой компании attocube. Исследование образцов методом магнитно-силовой микроскопии реализовано в микроскопе attoAFM I.

Магнитно-силовая микроскопия, позволяющая исследовать локальные магнитные свойства образца, появилась в результате развития техники атомно-силовой микроскопии. Но, в отличие от АСМ, для сканирования образца используется зонд с магнитным покрытием (обычно нихром или кобальт).

В головке attoMFM применяется колебательная методика, обеспечивающая более высокую чувствительность и позволяющая получать более качественные МСМ изображения образцов. Суть этой методики состоит в возбуждении вынужденных колебаний кантилевера на резонансной частоте в направлении, перпендикулярном поверхности образца. Взаимодействие зонда с поверхностью образца приводит к сдвигу резонансной частоты, который пропорционален производной по координате z от силы взаимодействия зонда с поверхностью образца.
Принцип работы магнитно-силового микроскопа
Для того чтобы отделить вклад магнитного взаимодействия зонда с поверхностью от других взаимодействий, используют два режима сканирования образца. В режиме «постоянной высоты» зонд движется на одной и той же высоте относительно усредненной плоскости образца. Такой режим сканирования хорошо подходит для относительно плоских образцов. Для образцов с сильно развитым рельефом поверхности применяется режим «постоянного расстояния». В этом режиме сканирование осуществляется в два прохода. За первый проход происходит запись рельефа поверхности, за второй проход зонд повторяет рельеф образца, тем самым поддерживая постоянное расстояние между зондом и поверхностью.

В режиме постоянной высоты расстояние между зондом и поверхностью образца обычно лежит в пределах от 10 до 100 нм. Сканирование поверхности происходит на скорости порядка нескольких десятков микрон в секунду. Благодаря своей относительно простой реализации и достаточно высокой скорости режим постоянной высоты может быть использован для исследования различных образцов, таких как жесткие диски и сверхпроводники. Режим постоянного расстояния, напротив, подходит для образцов со сложным рельефом и требует заметно большего времени на регистрацию МСМ изображения.

Для уточнения цены и сроков поставки оборудования связывайтесь с техническими специалистами «Криотрейд инжиниринг»